Texas Instruments INA237/INA237-Q1采用低失调和增益漂移设计，因此该器件可用于制造过程中不经过多温度校准的精密系统。此外，极低的失调电压和噪声支持用于A至kA检测应用，具有宽动态范围，检测分流元件上没有显著的功率耗散损耗。该器件具有低输入偏置电流，因此可以使用更大电流检测电阻器，从而在微安级提供精确的电流测量。该器件支持50μs至4.12ms可选ADC转换时间和1x至1024x平均采样，进一步帮助降低测量数据的噪声。
特性
_高分辨率、16位Δ-Σ ADC
_电流监控精度
_失调电压：±50µV（最大值）
_失调漂移：±0.02µV/°C（最大值）
_增益误差：±0.3%（最大值）
_增益误差漂移：±50ppm/°C（最大值）
_共模抑制：120dB（最小值）
_功率监控精度
_满量程：1.6%（最大值，–40°C至125°C）
_快速警报响应：75μs
_宽共模范围：–0.3V至+85V
_总线电压检测输入：0V至85V
_分流满量程差分范围：±163.84mV/±40.96mV
_输入偏置电流：2.5nA（最大值）
_温度传感器：±1°C（25°C时最大值）
_可编程转换时间和平均值
_2.94MHz高速I2C接口，具有16个引脚可选地址
_由2.7V至5.5V电源供电
_工作电流：640µA（典型值）
_关断电流：5µA（最大值）
应用
_直流/直流转换器和电源逆变器
_工业电池组
_以太网供电 (POE)
_电信设备
_企业服务器
